走査電子顕微鏡FlexSEM1000II実機説明会 開催報告

この度、教育研究支援センターに新たに走査電子顕微鏡「FlexSEM1000 II」が導入されました。
これに伴い、本機器の実機説明会を開催しました。

開催日時

9月4日(木)
①9:00-12:00
②13:00-16:00

開催場所

金沢大学宝町キャンパス 医学類F棟地下1階 電子顕微鏡室

内容

本機器は、加速電圧20 kVで像分解能4.0 nmという高性能を備えながら、
明るさやフォーカスの自動調整機能が高速化されており、短時間で多彩なサンプルの観察が可能です。
初心者にも扱いやすいガイド機能を搭載しており、カラーで撮影したサンプル画像から任意の位置を選択し、
その部分を高倍率で撮影・マッピングすることができます。
また、日立ハイテク製のSEM病理解析データベースも利用可能です。
これらの特徴を備えた本機器の使用法について、メーカー担当者からご説明いただきました。

講師

株式会社 日立ハイテク
CTシステム営業本部 佐藤千秋様

担当

小林 亜紀子(総合技術部 機器分析部門)
高野 淳子(医学系教育研究支援センター)

ご参加くださいました皆さま、ありがとうございました。